什么是方塊電阻 蒸發(fā)鋁膜、導(dǎo)電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導(dǎo)電材料， 蒸發(fā)鋁膜、導(dǎo)電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導(dǎo)電材料，衡量它們厚 度的最好方法就是測(cè)試它們的方阻。什么是方阻呢？方阻就是方塊電阻， 度的最好方法就是測(cè)試它們的方阻。什么是方阻呢？方阻就是方塊電阻，指一 個(gè)正方形的薄膜導(dǎo)電材料邊到邊“ 間的電阻，如圖一所示， 個(gè)正方形的薄膜導(dǎo)電材料邊到邊“之”間的電阻，如圖一所示，即 B 邊到 C 邊 的電阻值。方塊電阻有一個(gè)特性， 的電阻值。方塊電阻有一個(gè)特性，即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣 它們的方阻都是一樣， 的，不管邊長(zhǎng)是 1 米還是 0.1 米，它們的方阻都是一樣，這樣方阻僅與導(dǎo)電膜 的厚度等因素有關(guān)。 的厚度等因素有關(guān)。 方塊電阻如何測(cè)試呢，可不可以用萬(wàn)用表電阻檔直接測(cè)試圖一所示的材料 方塊電阻如何測(cè)試呢， 不可以的，因萬(wàn)用表的表筆只能測(cè)試點(diǎn)到點(diǎn)之間的電阻，而這個(gè)點(diǎn)到點(diǎn)之 呢？不可以的，因萬(wàn)用表的表筆只能測(cè)試點(diǎn)到點(diǎn)之間的電阻，而這個(gè)點(diǎn)到點(diǎn)之 間的電阻不表示任何意義。如要測(cè)試方阻， 間的電阻不表示任何意義。如要測(cè)試方阻，首先我們需要在 A 邊和 B 邊各壓上 電阻比導(dǎo)電膜電阻小得多的圓銅棒， 一個(gè)電阻比導(dǎo)電膜電阻小得多的圓銅棒 而且這個(gè)圓銅棒光潔度要高， 一個(gè)電阻比導(dǎo)電膜電阻小得多的圓銅棒，而且這個(gè)圓銅棒光潔度要高，以便和 導(dǎo)電膜接觸良好。

導(dǎo)電膜接觸良好。這樣我們就可以通過(guò)用萬(wàn)用表測(cè)試兩銅棒之間的電阻來(lái)測(cè)出導(dǎo)電薄膜材料 的方阻。如果方阻值比較小，如在幾個(gè)歐姆以下， 的方阻。如果方阻值比較小，如在幾個(gè)歐姆以下，因?yàn)榇嬖诮佑|電阻以及萬(wàn)用 表本身性能等因素，用萬(wàn)用表測(cè)試就會(huì)存在讀數(shù)不穩(wěn)和測(cè)不準(zhǔn)的情況。 表本身性能等因素，用萬(wàn)用表測(cè)試就會(huì)存在讀數(shù)不穩(wěn)和測(cè)不準(zhǔn)的情況。這時(shí)就 需要用專門的用四端測(cè)試的低電阻測(cè)試儀器 如毫歐計(jì)、微歐儀等。 四端測(cè)試的低電阻測(cè)試儀器， 需要用專門的用四端測(cè)試的低電阻測(cè)試儀器，如毫歐計(jì)、微歐儀等。測(cè)試方法 如下：用四根光潔的圓銅棒壓在導(dǎo)電薄膜上，如圖二所示。 如下：用四根光潔的圓銅棒壓在導(dǎo)電薄膜上，如圖二所示。四根銅棒用 A、B、C、 表示，它們上面焊有導(dǎo)線接到毫歐計(jì)上， D 表示，它們上面焊有導(dǎo)線接到毫歐計(jì)上，我們使 BC 之間的距離 L 等于導(dǎo)電薄 膜的寬度 W，至于 AB、CD 之間的距離沒(méi)有要求，一般在 10--20mm 就可以了，接 AB、 之間的距離沒(méi)有要求， 10--20mm 就可以了， -通毫歐計(jì)以后，毫歐計(jì)顯示的阻值就是材料的方阻值。這種測(cè)試方法的優(yōu)點(diǎn)是： 通毫歐計(jì)以后，毫歐計(jì)顯示的阻值就是材料的方阻值。

這種測(cè)試方法的優(yōu)點(diǎn)是： 用這種方法毫歐計(jì)可以測(cè)試到幾百毫歐，幾十毫歐，甚至更小的方阻值， （1）用這種方法毫歐計(jì)可以測(cè)試到幾百毫歐，幾十毫歐，甚至更小的方阻值， 由于采用四端測(cè)試，銅棒和導(dǎo)電膜之間的接觸電阻， （2）由于采用四端測(cè)試，銅棒和導(dǎo)電膜之間的接觸電阻，銅棒到儀器的引線電 即使比被測(cè)電阻大也不會(huì)影響測(cè)試精度。（ 測(cè)試精度高。 。（3 阻，即使比被測(cè)電阻大也不會(huì)影響測(cè)試精度。（3）測(cè)試精度高。由于毫歐計(jì)等 儀器的精度很高， 儀器的精度很高，方阻的測(cè)試精度主要由膜寬 W 和導(dǎo)電棒 BC 之間的距離 L 的機(jī) 械精度決定，由于尺寸比較大，這個(gè)機(jī)械精度可以做得比較高。在實(shí)際操作時(shí)， 械精度決定，由于尺寸比較大，這個(gè)機(jī)械精度可以做得比較高。在實(shí)際操作時(shí)， 為了提高測(cè)試精度和為了測(cè)試長(zhǎng)條狀材料， 不一定相等， 為了提高測(cè)試精度和為了測(cè)試長(zhǎng)條狀材料，W 和 L 不一定相等，可以使 L 比 W 大 很多，此時(shí)方阻 為毫歐計(jì)讀數(shù)。此方法雖然精度比較高， 很多，此時(shí)方阻 Rs=Rx*W/L,Rx 為毫歐計(jì)讀數(shù)。此方法雖然精度比較高，但比較 麻煩，尤其在導(dǎo)電薄膜材料比較大，形狀不整齊時(shí)，很難測(cè)試， 麻煩，尤其在導(dǎo)電薄膜材料比較大，形狀不整齊時(shí)，很難測(cè)試，這時(shí)就需要用 專用的四探針探頭來(lái)測(cè)試材料的方阻，如圖三所示。