1、新威測(cè)試柜測(cè)試 新威測(cè)試柜是采用恒電流充放電的方法來計(jì)算超級(jí)電容器的比電容。 恒流充 放電測(cè)試方法是使處于特定充電/放電狀態(tài)下的被測(cè)電極或電容器在恒電流條件 下充放電，同時(shí)考察其電位隨時(shí)間的變化，研究電極或電容器的性能，進(jìn)而計(jì)算 比容量。通過恒電流充放電測(cè)試，可以得到充放電時(shí)間、電壓和電量等數(shù)據(jù)，并 可以由這些數(shù)據(jù)來計(jì)算電容器或電極材料的比容量。 2、電化學(xué)工作站測(cè)試 電化學(xué)工作站主要采用循環(huán)伏安測(cè)試比電容，循環(huán)伏安測(cè)試技術(shù)是在給電極 施加恒定掃描速度的電壓下比電容， 持續(xù)觀察電極表面電流和電位的關(guān)系，從而表征電 極表面發(fā)生的反應(yīng)以及探討電極反應(yīng)機(jī)理的一種測(cè)試方法。 循環(huán)伏安是電壓線性 變化，測(cè)試的時(shí)候比較重要的測(cè)試參數(shù)：掃描速度和電位掃描范圍。電位的掃描 范圍比電容， 一般會(huì)在一個(gè)比較寬的范圍掃描一次然后選擇電容性能還比較好的區(qū)間再 進(jìn)行線性掃描， 掃描速度會(huì)影響比電容，相同的電極材料相同測(cè)試體系掃速越大 計(jì)算出的比電容會(huì)越小。 在實(shí)際情況下， 超級(jí)電容器都有一定的內(nèi)阻，它相當(dāng)于很多個(gè)電容和電阻混 聯(lián)而成， 相應(yīng)循環(huán)伏安圖中會(huì)出現(xiàn)一段有一定弧度的曲線。因此通常是依據(jù)循環(huán) 伏安曲線的形狀首先定性地研究某種材料的電容性能， 如果這種材料根據(jù)雙電層 原理儲(chǔ)存電荷， 循環(huán)伏安曲線呈理想的矩形特征，就可以利用循環(huán)伏安曲線的縱 坐標(biāo)上電流的變化情況來計(jì)算電極的比電容， 此時(shí)計(jì)算結(jié)果與根據(jù)恒流充放電測(cè) 試計(jì)算的結(jié)果基本一致 通常循環(huán)伏安測(cè)試技術(shù)下的電容值計(jì)算方法適用于雙電層電容器，即循環(huán) 伏安曲線呈現(xiàn)明顯的矩形特征， 如果偏離矩形特征，采用積分方法去計(jì)算比電容 值， 往往造成比電容值虛高， 恒流充放電測(cè)試技術(shù)是應(yīng)用最為廣泛的一種測(cè)試技 術(shù)， 根據(jù)其充放電曲線的線性關(guān)系和電壓降等參數(shù)即可計(jì)算電容器的充放電容量 及等效串聯(lián)電阻等， 當(dāng)放電曲線線性特征明顯時(shí)，可以利用放電曲線的斜率進(jìn)行 計(jì)算。

循環(huán)伏安變化的是電壓， 而響應(yīng)的電流是隨時(shí)間變化的；而充放電通常在恒 電流下進(jìn)行的，電壓隨之變化。因此，材料得失電子的速率不同，這是電極動(dòng)力 學(xué)的問題。所以，循環(huán)伏安和恒電流充放電測(cè)試出的結(jié)果本身就是不一樣的。3、由于以質(zhì)量比電容作為標(biāo)準(zhǔn)，計(jì)算過程中需要考慮工作電極活性物質(zhì)的質(zhì)量 問題， 當(dāng)工作電極上涂覆的活性物質(zhì)質(zhì)量太小時(shí)，根據(jù)公式計(jì)算出的電容值很大， 考慮到超級(jí)電容器的實(shí)際生產(chǎn)與應(yīng)用，在電極材料基礎(chǔ)研究過程中，工作電極上 活性物質(zhì)的質(zhì)量涂覆在大約 5-10mg/cm2 為宜，如果活性物質(zhì)質(zhì)量涂覆太小，則 計(jì)算的電容值并不能本征反應(yīng)電極材料的電容行為， 其電容值的計(jì)算意義也將不 存在。研究發(fā)現(xiàn)當(dāng)電極片質(zhì)量低于 10mg/cm2 時(shí)，計(jì)算得到的電容值隨著電極片 質(zhì)量的減小而顯著增大；當(dāng)質(zhì)量超過 10mg/cm2 時(shí)，計(jì)算得到的比電容值基本穩(wěn) 定。

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