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今天和大家分享對于開關(guān)電容中“開關(guān)”的一些理解。開關(guān)電容電路有很多的應(yīng)用場景電容開關(guān),比如A/D、D/A、濾波器等。
開關(guān)在CMOS工藝中是最容易實現(xiàn)的一個,簡單的MOSFET就能實現(xiàn)ON和OFF的功能。一個小小的開關(guān),還是有比較多的考慮因素的。
圖1
實現(xiàn)形式上,簡單分為單管和多管。單管開關(guān)在集成電路中隨處可見:trim調(diào)節(jié),使能開關(guān),電源中Power Switch等;多管開關(guān),主要是Double Switch的“傳輸門”及自舉(bootstrap)開關(guān)。
理想開關(guān)具有圖2所示的特征,Close電阻為零,Open電阻為無窮大,開關(guān)過程也是理想的。
圖2
實際上,用MOS器件實現(xiàn)的開關(guān)的導(dǎo)通電阻和關(guān)斷電阻都不是理想的。工作在線性區(qū)的nMOS器件的導(dǎo)通電阻可以表示圖3所示,通常選定工藝后,貌似我們能做的很簡單,選擇合適的器件類型,確定W和L,so easy~
圖3
Close狀態(tài)的開關(guān)等效為電阻(注意,實際使用時,電阻的阻值是隨端電壓變化而變化的),通過開關(guān)對電容充放電的過程就可以看做一階系統(tǒng),其建立過程為典型的指數(shù)響應(yīng)。時間常數(shù)τ=RC,建立過程中誤差為4.6τ(1%)和6.9τ(0.1%),可見,開關(guān)的阻值會影響到電路工作的速度。
單管開關(guān)在Open的過程中,溝道電荷會通過源漏端進(jìn)行電荷轉(zhuǎn)移的再分配過程,也就是電荷注入(Charge Injection)效應(yīng)。
圖4
圖4為研究溝道電荷注入的模型,其中NMOS源端電容為Cin,漏端為Cs,信號源為Norton形式,VG關(guān)閉時間為δt,結(jié)果中縱坐標(biāo)為轉(zhuǎn)移到Cs的電荷占溝道總電荷的比例,橫坐標(biāo)為B(開關(guān)速度越快,B值越?。梢钥吹綄τ谳^快的開關(guān)速度,電荷注入到Cin和Cs的比率都是0.5。
那么如何減小單管開關(guān)的電荷注入對采樣電容的影響那?通常使用雙管的“傳輸門”開關(guān),利用NMOS和PMOS溝道的不同的載流子類型抵消電荷注入的影響;或進(jìn)一步增加dummy開關(guān)進(jìn)一步抵消其影響如圖4所示。
圖5
另一個是時鐘饋通(Clock Feedthrough),其電路描述如圖6所示。其中開關(guān)本身的交疊電容Cov和可能的線間寄生Cpara。開關(guān)控制信號VG,通過Cov和Cs的分壓關(guān)系對Vout節(jié)點產(chǎn)生影響,影響取決于比例Cov/(Cs+Cov)和時鐘電平CK乘積。與Vout存在較大寄生的信號線, 也會通過Cpara對影響Vout。特別是采樣電容Cs較小的高精度電路中,小至fF量級的電容可能對Vout有較大的影響
減小時鐘饋通的方法,減小開關(guān)尺寸(選擇接近特征尺寸的W、L,犧牲導(dǎo)通電阻),減小交疊電容;注意Vout關(guān)鍵信號線和其他變化信號線的版圖間距,控制線間寄生,關(guān)鍵處可以使用屏蔽保護(hù)。
還要注意小尺寸開關(guān)的版圖,減小poly和源漏的線間寄生。
圖6
隨著工藝的演進(jìn),電源電壓在下降,為避免出現(xiàn)開關(guān)的死區(qū)現(xiàn)象,結(jié)合電荷泵的升壓特點,出現(xiàn)的自舉開關(guān)(bootstrap switch)電容開關(guān),目的是通過提高開關(guān)柵級電壓同時又避免擊穿開關(guān)柵級。其基本原理如圖7所示。
圖7
在時鐘周期的ΦOFF狀態(tài),紅色開關(guān)Close,CB被充電至VDD,主開關(guān)Ms處于OFF狀態(tài)。
在時鐘周期的ΦON狀態(tài),藍(lán)色開關(guān)Close,CB跨接在主開關(guān)Ms的柵源兩端,主開關(guān)Ms處于ON狀態(tài)。開關(guān)Soff需要使用更高耐壓的器件。
Ms柵級寄生電容為Cp,可以計算出柵級電壓為(Vin+VDD)*Cp/(Cp+CB)。自舉開關(guān)的導(dǎo)通電阻和輸入電壓值無關(guān),相對恒定。
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文章由啟和科技編輯
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