晶振的測試電路利用簡單幾個(gè)元件制作一個(gè)可測量 10kHz-100MHz 晶振的測試電路（電路如圖），BG1 和所接多頻振蕩 器，經(jīng) C3、D1、D2 進(jìn)行檢波后可在 LED 上得到下正上負(fù)的電壓，驅(qū)動 LED 發(fā)光。 若晶振已壞，LED 不亮?？蓪⒋诵‰娐钒惭b在維修用的電源上，留兩個(gè)插測晶振元件的小孔。 制作中應(yīng)注意：晶振的兩條引出線不能相距過近，否則振蕩幅度大大減小導(dǎo)致發(fā)光管不亮。一種簡單的晶振檢驗(yàn)器 用一般的萬用表是不能測出晶振的好壞的，這里提供了一種簡單而實(shí)用的晶振檢驗(yàn)器，它 只采用一個(gè) N 溝道結(jié)型場效應(yīng)管（FET），兩個(gè)普通 NPN 小功率晶體三極管，一個(gè)發(fā)光 管和一些阻容元件，便可有效的檢驗(yàn)任何晶振的好壞。 如圖所示，2N3823 結(jié)型 N 溝道場效應(yīng)管（可用任何其它型號的同類小功率場效應(yīng)管， 如 3DJ6， 3DJ7 等） 與被測晶體 （晶振） 等組成一個(gè)振蕩器， 兩個(gè)兩個(gè) NPN 三極管 2N3904 （也可用其它任何型號的小功率 NPN 三極管）接成復(fù)合檢波放大器，驅(qū)動發(fā)光二極管 LED。若被測晶振良好時(shí)，振蕩器起振，其振蕩信號經(jīng) 0.01uF 的電容耦合至檢波放大器的 輸入端，經(jīng)放大后驅(qū)動發(fā)光二極管發(fā)光。如果被測晶振不好，則晶振不起振，發(fā)光二極管就 不發(fā)光。 本裝置可檢驗(yàn)任何頻率的晶振但其最佳的工作狀態(tài)是在 3---10MHz 范圍內(nèi)。 下圖為電路原理圖：下圖為印刷板圖簡易晶振測試電路貢獻(xiàn)人： 時(shí)間：2009-12-24 本文介紹一款簡單易作的晶振測試裝置晶振測試，原理電路如附圖所示。 圖中，V1 及其外圍元件（包括被測晶振） 共同組成一個(gè)電容三點(diǎn)式振蕩器。當(dāng)探頭 X1、X2 兩端接入被測晶振時(shí)，電路振蕩。振蕩信號經(jīng) V2 射極 跟隨級放大后輸出，經(jīng) C4 耦合、D1、D2 倍壓整流后為 V3 提供偏置電流，V3 導(dǎo)通，LED 發(fā)光。若晶振 不良或斷路晶振測試，電路則不能起振，因而 LED 不發(fā)光。 該裝置結(jié)構(gòu)簡單，所用元件極為普遍，而且只要元件 質(zhì)量良好，裝配無誤，不需調(diào)試即可一次成功。探頭可利用兩個(gè)插孔代替。也可以選用帶電纜的表筆或測 試棒，但引線不宜過長。該測試議可測試頻率為 450KHz～49MHz 的各種晶振，工作電源推薦采用 6V 疊 層電池。

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